新闻中心 NEWS

公司新闻您所在的位置:首页 > 新闻中心 > 公司新闻

温度变化试验的目的及作用机理

发布时间:2020/1/9   来源:www.shrhsy.ltd
温度变化试验目的
确定电子元器件及没备在贮存、运输和使用期间可能遇到温度迅速变化条件下的适应性。
在严寒季节,当设备从室内移到室外,或从室外移到室内时,就会发生从高温到低温的冲击,或从低温到高温的冲击。对于机载设备,当飞机从机场起飞迅速爬升或向下俯冲着陆时,就可遇到从极端高温到极端低温或从极端低温到极端高温的大幅度变化,这种情况在运输机存在,高速飞机更加存在。
温度变化对电子产品的影响机理
温度变化引起的热应力,会使产品膨胀、收缩、断裂等,最后造成性能破坏。如涂敷层、灌封化合物及其他材料的龟裂和脱落,尺寸变化,引出端密封处和壳体接缝处开裂等,均会使产品性能下降或无法使用。在高温骤降到低温过程中,由于温度突变,表面产生凝露会加剧产品腐蚀。
温度变化试脸方法
1,具有规定转换时间的温度变化试验
试验主要考核在规定温度急剧变化后的电气性能,机械部件及材料和材料组合耐抗温度急剧变化的适应性。试验采用两箱法。
2,具有规定温度变化率的温度变化试验
试验考核温度变化期间的电气、机械性能。
产品放在一个有温度变化的试验箱内。
3,温度的快速变化,两液槽法试验
确定元件或其他产品,经受温度快速变化的能力。
试验适用于玻璃~金属密封或类似试验样品。
上一条:温度变化试验箱测试试件摆放要求
下一条:温度变化试验测试工程师操作指南
相关产品

在线
客服

在线客服服务时间:9:00-24:00

客服
热线

15335270170
7*24小时客服服务热线

关注
微信

关注官方微信
顶部